介質損耗測試儀采用自動變頻在干擾頻率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一個點，然后推算50Hz頻率下數(shù)據(jù)。除多個元件電路的低頻諧振外，單個試品中的介質不可能在低頻引起能量吸收峰，工頻附近介損總是隨頻率單調(diào)變化的，因此這種測量方法不會帶來明顯誤差。 實際上，平均前的兩個介損值已十分接近，即使不平均也*有參考價值。目前，變頻介損儀已成為介損測量的常規(guī)儀器，其優(yōu)異的抗力和準確度已經(jīng)得到認可。 介損有RC串聯(lián)和并聯(lián)兩種理想模型：串聯(lián)模型tgδ=2πfRC，并聯(lián)模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成正比和反比。f對*正比和*反比兩種模型影響較大。但實際電容器是多種模型交織的混合模型，此時f的影響就小。 介質損耗測試儀變頻測量時： 干擾十分嚴重時，變頻測量能得到準確可靠的結果。例如用55Hz測量時，測量系統(tǒng)只允許55Hz信號通過，50Hz干擾信號被有效抑制，原因在于測量系統(tǒng)很容易區(qū)別不同頻率，由下述簡單計算可以說明選頻測量的效果： 兩個頻率相差1倍的正弦波疊加到一起，高頻的是干擾，幅度為低頻的10倍： Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°) 在x=0/90/180/270°得到4個測量值 Y0=12.4517，Y1=-11.1017，Y2=12.2075，Y3=-13.5576， 計算A=Y1-Y3=2.4559，B=Y0-Y2=0.2442，則： φ=tg-1(B/A)=5.678°V=A2+B2/2=1.234 這剛好是低頻部分的相位和幅度，干擾被抑制。實際波形的測量點多達數(shù)萬，計算量很大，結果反映了波形的整體特征。 |
