介質(zhì)損耗測試儀適用于固體電工絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、電纜料、薄膜復合制品、陶瓷和玻璃等的相對介電系數(shù)（ε）與介質(zhì)損耗角正切值（tgδ）的測試。 介質(zhì)損耗測試儀的電極主要用于頻率在工頻50Hz下測量試品的相對介電系數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角正切值（tgδ）。本電極的設計主要是參照國標GB1409－2006。采用的是三電極式結構，能有效的消除表面漏電流的影響，使測量電極下的電場趨于均勻電場。 介質(zhì)損耗測試儀介質(zhì)損耗因數(shù)，又稱介質(zhì)損耗角正切，介電損耗角正切。表征電介質(zhì)材料在施加電場后介質(zhì)損耗大小的物理量，以tgδ表示，δ是介電損耗角。它表征每個周期內(nèi)介質(zhì)損耗的能量與其貯存能量之比。高分子材料多系絕緣性好的材料，廣泛的用于電子及電工行業(yè)。 使用時不希望絕緣材料本身能量損耗大，因而測量出介質(zhì)損耗因數(shù)就能評價材料的介質(zhì)本身能量損耗。工業(yè)上多選用介質(zhì)損耗因數(shù)小的高分子材料作為絕緣材料。通常極性橡膠的tanδ比非極性橡膠的大。 它還與試驗采用的頻率、溫度緊密相關。在一定溫度下，只有在某一頻率范圍內(nèi)，分子偶極取向雖可追隨電場變化，但不*同步，有部分電能被吸收而發(fā)熱，tanδ出現(xiàn)大值。同樣在一定頻率下，惟有某一溫度區(qū)域內(nèi)tanδ才會出現(xiàn)值，當頻率升高時，介質(zhì)損耗峰移向高溫端。 |
